Probabilistische Verfahren fr den Test hochintegrierter Schaltungen [Paperback]

Die Arbeit behandelt den Selbsttext hochintegrierter digitaler Schaltungen mit zuf?llig erzeugten Mustern. Es wird ein neues Verfahren vorgestellt, um die Wahrscheinlichkeit abzusch?tzen, mit der ein Fehler durch ein zuf?llig erzeugtes Muster erkannt wird, und um darauf aufbauend die notwendige Zahl von Zufallsmustern zu bestimmen. Beim konventionellen Zufallstest ben?tigen viele Schaltungen unwirtschaftlich gro?e Mustermengen. Um dieses Problem zu l?sen, wird eine Methode vorgeschlagen, f?r Zufallsmuster solche optimalen Verteilungen zu bestimmen, die eine besonders hohe Fehlererfassung erwarten lassen. In vielen F?llen kann so die n?tige Musterzahl um mehrere Gr??enordnungen gesenkt werden. Zur Ausf?hrung eines einfachen Selbsttests wird ein Modul vorgestellt, der auf dem Chip integriert werden kann und im Testmodus die Muster mit den geforderten Verteilungen erzeugt. Der Mehraufwand an Schaltelementen f?r den Selbsttest mit optimierten Zufallsmustern ist mit dem herk?mmlichen Zufallstest vergleichbar. Aufgrund der behandelten Verfahren kann daher die Klasse der Schaltungen vergr??ert werden, die mit Zufallsmustern selbsttestbar sind, ohne da? signifikante Mehrkosten anfallen.Die Arbeit behandelt den Selbsttext hochintegrierter digitaler Schaltungen mit zuf?llig erzeugten Mustern. Es wird ein neues Verfahren vorgestellt, um die Wahrscheinlichkeit abzusch?tzen, mit der ein Fehler durch ein zuf?llig erzeugtes Muster erkannt wird, und um darauf aufbauend die notwendige Zahl von Zufallsmustern zu bestimmen. Beim konventionellen Zufallstest ben?tigen viele Schaltungen unwirtschaftlich gro?e Mustermengen. Um dieses Problem zu l?sen, wird eine Methode vorgeschlagen, f?r Zufallsmuster solche optimalen Verteilungen zu bestimmen, die eine besonders hohe Fehlererfassung erwarten lassen. In vielen F?llen kann so die n?tige Musterzahl um mehrere Gr??enordnungen gesenkt werden. Zur Ausf?hrung eines einfachen Selbsttests wird ein Modul vorgestellt, der auf dem Chip integriert wel3Q