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1. Einleitung.- 2. Fehler in Mikrocomputerkomponenten.- 2.1 Fehlerursachen bei hochintegrierten MOS-Schltkreisen.- 2.2 Fehlerursachen bei bipolaren Schaltkreisen.- 2.3 Klassifizierung der Fehlerarten.- 2.4 Funktionsspezifische Ausfallursachen.- 3. Qualit?tssicherung.- 3.1 Berechnung der Zuverl?ssigkeit von Bauelementen.- 3.2 Berechnung der Ausfallraten von LSI-Chips anhand des Integrationsgrads.- 3.3 Zeitabh?ngigkeit der Ausfallrate.- 3.4 Temperaturabh?ngigkeit der Ausfallrate.- 3.5 Zuverl?ssigkeitsvorhersage nach MIL-HDBK-217B.- 3.6 Bestimmen der Ausfallraten integrierter Bauteile durch Materialpr?fungen.- 3.7 Fehlerraten von Mikrocomputerelementen.- 3.8 Stichprobenpr?fungen.- 4. Testverfahren bei integrierten Schaltkreisen.- 4.1 Bausteintest.- 4.2 Testfreundliche Strukturen.- 4.3 Testverfahren bei Mikroprozessorsystemen.- 4.3.1 Mikroprozessorselbsttest.- 4.3.2 Speichertest.- 4.3.3 Peripherietest.- 5. Der Einflu? des Hardwareentwurfs auf die Systemzuverl?ssigkeit.- 5.1 Zusammenschalten von Bauteilen.- 5.2 Probleme bei der Stromversorgung.- 5.3 Probleme bei Leitungen.- 5.4 Spezielle Probleme mit Schaltkreisen.- 6. Der Einflu? des Softwareentwurfs auf die Systemzuverl?ssigkeit.- 6.1 Strukturierte Programmierung.- 6.2 Testmustererzeugung.- 6.3 Programmredundanz.- 7. Redundanztechniken.- 7.1 Grundlagen.- 7.2 Methoden zur Fehlererkennung.- 7.3 Statische Redundanz.- 7.4 Dynamische Redundanz.- 7.5 Hybride Redundanz.- 7.6 Vergleich der Redundanzverfahren.- 8. Fehlererkennende und -korrigierende Codes.- 8.1 Zuverl?ssigkeitsberechnung von Halbleiterspeichem.- 8.2 Grundlagen fehlererkennender und -korrigierender Codes.- 8.3 Codierverfahren f?r parallele Daten?bertragung und Speicherung.- 8.3.1 Darstellung des Korrekturverfahrens in Matrixform.- 8.3.2 Hammingeode.- 8.3.3 Hardware-optimierter SEC-DED-Code.- 8.4 Codierverfahren f?r serielle Daten?bertragung und Speicherung.- 8.4.1 Grundlagen zyklischer Codes.- 8.4.2 Schaltungen f?r zyklische Codes.- 8.4.3 Beispiele zyklischer Colc0
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